DGIST и Yonsei измерили деформацию в сморщенных кремниевых плёнках толщиной 15 нм по третьей гармонике
Корейские группы выяснили, как меняется отклик на свет в сморщенной сверхтонкой плёнке кремния, и предложили неразрушающий способ считывать локальную деформацию для гибких приборов.
Исследователи DGIST и Университета Йонсе (Южная Корея) разработали способ анализа деформации в сморщенном сверхтонком кремнии, сообщает fnnews.com. Нанопленки кремния со складками изготовили в Йонсе, а группа DGIST изучила их оптический отклик. fnnews.com
fnnews.comfnnews.comОткрыть источник ↗
DGIST объединил микроскопию генерации третьей гармоники, дающую свет с утроенной частотой, с квантовыми расчётами из первых принципов. Инфракрасное излучение 1040 нм вызвало резонанс с электронами кремния и дало ультрафиолетовый сигнал около 346 нм. Отношение интенсивности сигнала для разных направлений поляризации различалось на гребнях и во впадинах складок в зависимости от деформации.
В плёнках толщиной около 15 нм изменения электронной структуры и объёмная форма складок меняют распределение света рядом и влияют на сигнал. Работа опубликована в Nano Letters.
