# Спекл-спектрометр с интегрирующей сферой достиг разрешения 6 фм на длине волны 780 нм

- Опубликовано: 2026-11-08 18:21 UTC
- Раздел: Наука › Приборы и эксперименты
- Теги: спекл-спектрометр, разрешение 6 фм, интегрирующая сфера, разрешающая способность, сверхтонкая структура рубидия-85, D2-переход, боковые полосы модулятора, микроволновая фотоника, Аделаидский университет, Nature Communications
- Адрес: https://realtech.media/ru/news/rt-f333d34644693db199eae22e_spekl_spektrometr_s/

**Авторы из Аделаиды, Парижа и Сент-Эндрюса сообщили о лабораторном спекл-спектрометре, примерно в 80 раз точнее прежних, который разрешил сверхтонкую структуру рубидия.**

![Speckle spectrometer with integrating sphere reaches 6 fm resolution at 780 nm](https://realtech.media/media/2026/11/9fc559e13b3708e8.jpg)
*Wolfgang der Bastler, Wikimedia Commons, CC BY-SA 3.0*

Команда из Аделаидского университета, парижской Лаборатории Кастлера–Бросселя и Университета Сент-Эндрюса создала спекл-спектрометр с разрешением 6 фм на длине волны 780 нм. Работа опубликована в Nature Communications 7 ноября 2026 года [1]. Разрешающая способность составляет 1,3 × 10^8, что, по оценке авторов, примерно в 80 раз лучше прежних реализаций [1].

Лазерный спекл — зернистая картина интенсивности, возникающая при случайной интерференции света. Она кодирует спектральную информацию во многих измерениях, и это можно использовать для прецизионных измерений. Спекл-спектрометры компактны, механически устойчивы и не чувствительны к юстировке, но их спектральное разрешение оставалось на уровне пикометров [1].

## Интегрирующая сфера как рассеивающий резонатор

Чтобы преодолеть этот предел, авторы использовали интегрирующую сферу как многократно рассеивающую полость. Сфера даёт доступ к широкому диапазону длин путей, что повышает спектральную чувствительность прибора [1]. На длине волны 780 нм это дало разрешение 6 фм, указанное в статье.

В установке применены сфера Thorlabs с известным артикулом и электрооптический модулятор. Модулятор служил источником известной спектральной структуры для проверки прибора [1].

## Боковые полосы и сверхтонкая структура рубидия

Разрешения хватило, чтобы чётко различить боковые полосы лазерного излучения, создаваемые электрооптическим модулятором. Мощности боковых полос, извлечённые из спекла, совпали с ожидаемыми значениями с точностью до 1% [1].

Спектрометр также применили для прямого спекл-измерения сверхтонкой структуры D2-перехода в 85Rb. Полученные спектры пропускания отличались от независимых измерений, привязанных к измерителю длины волны, не более чем на 3,7% [1].

По утверждению авторов, результаты закладывают спекл как платформу для сверхточной спектроскопии, радиочастотной спектрометрии и микроволновой фотоники [1]. В статье описана лабораторная демонстрация на одной длине волны, 780 нм.

## Источники

1. [Nature Communications](https://doi.org/10.1038/s41467-026-78325-y)

---

Источник: RealTech, realtech.media — https://realtech.media/ru/news/rt-f333d34644693db199eae22e_spekl_spektrometr_s/