# DGIST и Yonsei измерили деформацию в сморщенных кремниевых плёнках толщиной 15 нм по третьей гармонике

- Опубликовано: 2026-11-09 01:06 UTC
- Раздел: Машины и производство › Электроника
- Теги: сверхтонкий кремний, сморщенный кремний, генерация третьей гармоники, анализ деформации, расчёты из первых принципов, гибкие оптоэлектронные приборы, Nano Letters, DGIST
- Адрес: https://realtech.media/ru/news/rt-58dbf25f64ed7449d7982842_dgist_i_yonsei/

**Корейские группы выяснили, как меняется отклик на свет в сморщенной сверхтонкой плёнке кремния, и предложили неразрушающий способ считывать локальную деформацию для гибких приборов.**

![DGIST and Yonsei use third-harmonic microscopy to read strain in wrinkled 15 nm silicon films](https://realtech.media/media/2026/11/3cfd2fccdb18b6ee.jpg)
*Sangitiana Fararano, Wikimedia Commons, CC BY-SA 2.0*

Исследователи DGIST и Университета Йонсе (Южная Корея) разработали способ анализа деформации в сморщенном сверхтонком кремнии, сообщает fnnews.com. Нанопленки кремния со складками изготовили в Йонсе, а группа DGIST изучила их оптический отклик. [1]

DGIST объединил микроскопию генерации третьей гармоники, дающую свет с утроенной частотой, с квантовыми расчётами из первых принципов. Инфракрасное излучение 1040 нм вызвало резонанс с электронами кремния и дало ультрафиолетовый сигнал около 346 нм. Отношение интенсивности сигнала для разных направлений поляризации различалось на гребнях и во впадинах складок в зависимости от деформации. [1]

В плёнках толщиной около 15 нм изменения электронной структуры и объёмная форма складок меняют распределение света рядом и влияют на сигнал. Работа опубликована в Nano Letters. [1]

## Источники

1. [fnnews.com](https://www.fnnews.com/news/202611090837479653)

---

Источник: RealTech, realtech.media — https://realtech.media/ru/news/rt-58dbf25f64ed7449d7982842_dgist_i_yonsei/